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发明名称 TEST APPARATUS OF SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号 KR0161122(B1) 申请公布日期 1999.02.01
申请号 KR19950034102 申请日期 1995.10.05
申请人 LG SEMICONDUCTOR CO., LTD. 发明人 SON, JAE-MYUNG
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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