发明名称 新型环境半导体光电子材料β-FeSi<SUB>2</SUB>薄膜的制备工艺
摘要 本发明公开了一种新型环境半导体光电子材料β-FeSi<SUB>2</SUB>薄膜的制备工艺,涉及一种Fe-Si化合物,首先采用磁控溅射方法在Si基片上沉积一层厚度50-150nm的金属Fe膜,随后在真空退火炉中880-920℃退火12-18小时获得Fe-Si化合物中的半导体相β-FeSi<SUB>2</SUB>薄膜,由于采用直流磁控溅射方法,使沉积在Si基片上的Fe膜厚度均匀、工艺简单、成本低,易于制备大面积β-FeSi<SUB>2</SUB>薄膜,易于工业化生产,又由于退火时间和温度能严格控制,产品质量稳定,重现性好。
申请公布号 CN101339906A 申请公布日期 2009.01.07
申请号 CN200810068861.8 申请日期 2008.08.12
申请人 贵州大学 发明人 谢泉;张晋敏;曾武贤;梁艳;肖清泉
分类号 H01L21/363(2006.01);H01L31/18(2006.01);H01L33/00(2006.01) 主分类号 H01L21/363(2006.01)
代理机构 贵阳东圣专利商标事务有限公司 代理人 徐逸心
主权项 1.一种新型环境半导体光电子材料β-FeSi2薄膜的制备工艺,其特征为首先采用磁控溅射方法在Si基片上沉积一层厚度50-150nm的金属Fe膜,随后在真空退火炉中880-920℃退火12-18小时获得Fe-Si化合物中的半导体相β-FeSi2薄膜。
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