发明名称 一种检测大口径抛物面镜K值系数的装置
摘要 一种检测大口径抛物面镜K值系数的装置,其特征在于:包括高精度测角仪、标准平面反射镜、校准平面反射镜、标准球面反射镜、平移台、二维旋转调节架;检测时,高精度测角仪发出平行光束,经标准平面反射镜和被测大口径抛物面镜反射后,到达标准球面反射镜,反射后沿原光路返回,再次经过被测大口径抛物面镜和标准平面反射镜后回到高精度测角仪,这样高精度测角仪就能测出发出平行光束和返回平行光束之间的角度差,根据不同位置采样检测得到的角度差值,可以拟合出被测大口径抛物面镜的K值系数;本发明采用采样检测和高精度角度测量使K值误差转换为角度误差的形式,为大口径抛物面面形加工提供准确的指导信息。
申请公布号 CN101339008A 申请公布日期 2009.01.07
申请号 CN200810119127.X 申请日期 2008.08.27
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 杨伟;章明;吴时彬;古斌;伍凡
分类号 G01B11/24(2006.01);G01M11/02(2006.01) 主分类号 G01B11/24(2006.01)
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人 贾玉忠;卢纪
主权项 1、一种检测大口径抛物面镜K值系数的装置,其特征在于:包括高精度测角仪(1)、标准平面反射镜(2)、校准平面反射镜(3)、标准球面反射镜(4)、平移台(5)、二维旋转调节架(6);高精度测角仪(1)能输出一定口径的标准平行光束,经检测光路后,返回到高精度测角仪(1),测得标准平行光束往返夹角;标准平面反射镜(2)通过二维旋转调节架(6)安装在平移台(5)上能作高精度平移运动;标准球面反射镜(4)的球心位置需要调节到与被测大口径抛物面镜的焦点位置重合;检测时,高精度测角仪(1)发出平行光束,经过标准平面反射镜(2)和被测大口径抛物面镜反射后,到达标准球面反射镜(4),反射后沿原光路返回,再次经过被测大口径抛物面镜和标准平面反射镜(2)后回到高精度测角仪(1),这样高精度测角仪(1)就能测出发出平行光束和返回平行光束之间的角度差,根据不同位置采样检测得到的角度差值,可以拟合出被测大口径抛物面镜的K值系数。
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