发明名称 |
基面距检测器具 |
摘要 |
一种基面距检测器具,包括:用于套装被检测齿环的圆盘体、与所述圆盘体一体成型的柱体、带第一腔体的支撑座、标准块、百分表,所述柱体设置在所述圆盘体下端,所述柱体容纳于所述支撑座的第一腔体内,且所述圆盘体设置在所述支撑座的端面以上,所述标准块套装在所述圆盘体上,用于校准所述百分表,所述百分表的顶端与所述圆盘体相连,使得被测齿环套装在所述圆盘体上,当向所述圆盘体施加向下垂直压力后,用于检测被测齿环的基面距。 |
申请公布号 |
CN205537442U |
申请公布日期 |
2016.08.31 |
申请号 |
CN201620034912.5 |
申请日期 |
2016.01.14 |
申请人 |
武汉协和齿环有限公司 |
发明人 |
李霞 |
分类号 |
G01B5/14(2006.01)I |
主分类号 |
G01B5/14(2006.01)I |
代理机构 |
武汉河山金堂专利事务所(普通合伙) 42212 |
代理人 |
胡清堂 |
主权项 |
一种基面距检测器具,其特征在于:包括用于套装被检测齿环的圆盘体(1)、与所述圆盘体(1)一体成型的柱体(2)、开设有第一腔体(31)的支撑座(3)、标准块(4)、百分表(5),所述柱体(2)设置在所述圆盘体(1)下部,所述柱体(2)容纳于所述支撑座(3)的第一腔体(31)内,且所述圆盘体(1)设置在所述支撑座(3)的端面以上,所述标准块(4)套装在所述圆盘体(1)上,用于校准所述百分表(5),所述百分表(5)的顶端与所述圆盘体(1)相连,使得被测齿环套装在所述圆盘体(1)上,当向所述圆盘体(1)施加向下垂直压力后,用于检测被测齿环的基面距。 |
地址 |
430056 湖北省武汉市经济技术开发区创业三路38号 |