用于测量平板玻璃表面颗粒度的光路结构及设备

摘要

本实用新型涉及平板玻璃领域，公开了一种用于测量平板玻璃表面颗粒度的光路结构及设备，该光路结构可以实现在待测玻璃表面形成满足干涉条件的第一照亮带和第二照亮带，该设备包括：上述的光路结构；摄像机，用于拍摄所述第一照亮带与所述第二照亮带所形成的干涉条纹的图像；以及处理器，根据所述干涉条纹的图像来判断所述待测玻璃表面上是否存在颗粒。本实用新型基于光的干涉原理对平板玻璃表面颗粒度进行检测，其灵敏度更高，有利于检测更细小的颗粒物。

主权项

一种用于测量平板玻璃表面颗粒度的光路结构，其特征在于，该光路结构包括：光源；分光器，用于将所述光源发出的光分为两束；第一照射装置，用于通过第一光纤将所述分光器所分出的第一束光照射至待测玻璃的上表面以形成第一照亮带；以及第二照射装置，用于通过第二光纤将所述分光器所分出的第二束光照射至所述待测玻璃的下表面以使该第二束光经所述待测玻璃折射后在所述上表面形成与所述第一照亮带平行的第二照亮带，其中，所述第一照亮带与所述第二照亮带满足干涉条件。