发明名称 |
用于目视检验干涉式调制器有无缺陷的方法 |
摘要 |
本发明提供一种用于在各种驱动状态中对干涉式调制器阵列(60)进行目视检验的方法。所述方法可包括:通过单个测试垫或测试引线(例如测试垫(72))来驱动多列或多行干涉式调制器,并随后观测阵列(60)在阵列(60)的预期光学输出与实际光学输出之间有无差异。所述方法可尤其包括:例如,将一组非相邻的行或列(例如列(62))驱动至不同于中间行或列(例如列(64))的状态,并随后观测阵列(60)的光学输出。 |
申请公布号 |
CN101027707A |
申请公布日期 |
2007.08.29 |
申请号 |
CN200580032120.9 |
申请日期 |
2005.09.23 |
申请人 |
IDC公司 |
发明人 |
威廉·J·卡明斯;布莱恩·J·加利 |
分类号 |
G09G3/00(2006.01);G02B26/00(2006.01);B81B3/00(2006.01) |
主分类号 |
G09G3/00(2006.01) |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
王允方;刘国伟 |
主权项 |
1、一种测试一干涉式调制器阵列的方法,所述方法包括:至少部分地同时将一第一信号施加至一第一多个非相邻干涉式调制器列,以将所述第一多个非相邻列中的干涉式调制器置于一激活状态中;及检验所述干涉式调制器阵列以识别所述阵列中的缺陷,其中所述检验是在施加所述第一信号之后实施。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |