发明名称 逆反射标志测量仪的光路系统
摘要 本实用新型公开了一种逆反射标志测量仪的光路系统,包括标准光源、第一聚焦镜片、半透半反射镜、折光筒、第二聚焦镜片和光接收器;所述第一聚焦镜片装置于所述标准光源的光路径上,且所述标准光源位于所述聚焦镜片的焦平面中心;所述半透半反射镜装置于所述聚焦镜片的下方,所述半透半反射镜为倾斜设置,且倾斜方向是朝向所述光接收器;所述折光筒装置于所述半透半反射镜和待测试样逆反射标志之间;所述第二聚焦镜片装置于所述折光筒的上方,所述第二聚焦镜片的直径大于等于所述折光筒的内径。其能够避免反射光在光路中的能量损失,可完全到达光接收器,进而提高了测量结果的准确性。
申请公布号 CN205374280U 申请公布日期 2016.07.06
申请号 CN201620040235.8 申请日期 2016.01.15
申请人 北京中交工程仪器研究所 发明人 杨宗文;田晓辰;吴会杰;高建涛
分类号 G01N21/01(2006.01)I 主分类号 G01N21/01(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种逆反射标志测量仪的光路系统,其特征在于:包括标准光源、第一聚焦镜片、半透半反射镜、折光筒、第二聚焦镜片和光接收器;所述第一聚焦镜片装置于所述标准光源的光路径上,且所述标准光源位于所述聚焦镜片的焦平面中心;所述半透半反射镜装置于所述聚焦镜片的下方,所述半透半反射镜为倾斜设置,且倾斜方向是朝向所述光接收器;所述折光筒装置于所述半透半反射镜和待测试样逆反射标志之间;所述第二聚焦镜片装置于所述折光筒的上方,所述第二聚焦镜片的直径大于等于所述折光筒的内径。
地址 100000 北京市大兴区黄村镇刘一村委会西500米