发明名称 半導体装置
摘要 半導体装置は、半導体層上に、第2エミッタ領域(9)からバッファ領域(7)に向かって、第1ボディ領域(4)を越えてドリフト領域(6)の一部まで覆うように形成されたゲート絶縁膜(12)及びゲート電極(13)を備えている。第2エミッタ領域(9)は、第1エミッタ領域(8)と接続すると共に、第1エミッタ領域におけるゲート電極(13)寄りの端部からゲート電極の下側に向かう横方向において、第2エミッタ領域(9)の拡散深さよりも長く、且つ第1ボディ領域(4)のゲート電極の下側における横方向の長さを超えない範囲で、ゲート電極の下側にまで延在している。
申请公布号 JPWO2014033991(A1) 申请公布日期 2016.08.08
申请号 JP20140532734 申请日期 2013.06.13
申请人 パナソニックIPマネジメント株式会社 发明人 生田 晃久;福本 彰
分类号 H01L29/786;H01L21/336;H01L29/78 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人
主权项
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