发明名称 形成多个不同深度接触窗的方法
摘要 在蚀刻步骤中,形成多个不同深度接触窗的方法。该半导体晶片包含一介电层,其下包含有一硅衬底、一氮化硅层以及一氮氧化硅层,此方法包含下列步骤:首先限定一光刻胶层在介电层上,此氮氧化硅层下方具有一第一导电层,此氮化硅层下方具有一第二导电层。接着蚀刻此氮氧化硅层、氮化硅层以及位于此氮氧化硅层及此氮化硅层上的部分介电层,以在硅衬底、第一导电层以及第二导电层上形成多个不同深度的接触窗。
申请公布号 CN1235369A 申请公布日期 1999.11.17
申请号 CN98108306.4 申请日期 1998.05.12
申请人 世界先进积体电路股份有限公司 发明人 刘豪杰;郑湘原;陈碧琳;连万益
分类号 H01L21/3065;H01L21/82 主分类号 H01L21/3065
代理机构 柳沈知识产权律师事务所 代理人 黄敏
主权项 1.一种形成多个不同深度接触窗的方法,该方法是在一蚀刻步骤中,于一半导体晶片上进行的,该半导体晶片至少包含一介电层,该介电层下包含有一硅底材、一氮化硅层以及一氮氧化硅层,所述方法至少包含:在所述介电层上,限定一光刻胶层,该氮氧化硅层下方具有一第一导电层,该氮化硅层下方具有一第二导电层;蚀刻该氮氧化硅层、该氮化硅层以及位于该氮氧化硅层及该氮化硅层上的部分介电层,通过使用一蚀刻剂进行该蚀刻步骤,以暴露出该硅衬底、该第一导电层以及该第二导电层,该蚀刻剂至少包含一第一化学药剂以及一第二化学药剂,该第一化学药剂至少包含C2F6、C4F8、CH3F以及Ar,该第二化学药剂可以由下列中选出,O2、CO2、CO及其组合,由此,在该硅衬底、该第一导电层以及该第二导电层上形成多个不同深度的接触窗。
地址 台湾省新竹科学工业园区