| 摘要 |
1. Устройство для определения скорости распространения поверхностной волны, содержащее:источник (105) когерентного света для формирования по меньшей мере первого светового пятна и второго светового пятна на поверхности (103);камеру (111) для захвата по меньшей мере одного несфокусированного изображения по меньшей мере части поверхности (103), содержащей первое и второе световые пятна, при этом несфокусированное изображение содержит первый объект изображения светового пятна для первого светового пятна и второй объект изображения светового пятна для второго светового пятна, при этом первый объект изображения светового пятна имеет первую спекл-структуру и второй объект изображения светового пятна имеет вторую спекл-структуру; ианализатор (113) для определения скорости распространения в соответствии с разностью во времени между изменениями первой спекл-структуры и второй спекл-структуры,характеризующееся тем, что анализатор (113) выполнен с возможностью определения разности во времени между изменениями первой спекл-структуры и второй спекл-структуры в соответствии с пространственным сравнением первой спекл-структуры и второй спекл-структуры в одном несфокусированном изображении, захваченном камерой, при этом камера содержит скользящий затвор для захвата по меньшей мере одного несфокусированного изображения.2. Устройство по п. 1, в котором анализатор (113) выполнен с возможностью:определения первого свойства первой спекл-структуры;определения второго свойства второй спекл-структуры;обнаружения первого изменения первого свойства;обнаружения второго изменения второго свойства; иопределения скорости распространения в соответствии |
