发明名称 半导体引线框架肉眼检测夹具
摘要 本实用新型公开了半导体引线框架肉眼检测夹具,包括两块固定挡板,所述两块固定挡板上分别连接有移动挡板,所述移动挡板呈凹形,所述移动挡板上固接引线框架探针;所述两块固定挡板间连接有导杆,所述固定挡板在导杆上滑动并通过固定螺栓固定,所述移动挡板通过调节导杆与固定挡板连接并通过固定螺栓固定。本结构的检测夹具可以将产品托起,让光线从产品底部通过产品的形腔,使观测更佳便捷;本结构的检测夹具可以同时观测更多的叠加在一起的产品,有效提高工作效率;本结构的检测夹具可以进行相对调节,从而使用范围更广,能够同时作用于不同大小的产品;本结构的检测夹具可以有效保护产品不受二次伤害。
申请公布号 CN205552333U 申请公布日期 2016.09.07
申请号 CN201620062759.7 申请日期 2016.01.22
申请人 铜陵丰山三佳微电子有限公司 发明人 张海龙;向华;徐文东;孙家兴;马春晖;张朝红
分类号 B25B11/00(2006.01)I 主分类号 B25B11/00(2006.01)I
代理机构 铜陵市天成专利事务所 34105 代理人 范智强
主权项 半导体引线框架肉眼检测夹具,其特征是包括两块固定挡板(1),所述两块固定挡板(1)上分别连接有移动挡板(2),所述移动挡板(2)呈凹形,所述移动挡板(2)由两块“L”形挡板构成,并通过固定螺栓调节;所述移动挡板(2)上固接引线框架探针(5);所述两块固定挡板(1)间连接有导杆(3),所述固定挡板(1)在导杆(3)上滑动并通过固定螺栓(6)固定,所述移动挡板(2)通过调节导杆(4)与固定挡板(1)连接并通过固定螺栓(6)固定。
地址 244000 安徽省铜陵市铜官山区石城路电子工业区