发明名称 形成一直立闸极半导体装置之方法及其结构
摘要 本发明揭示一种直立闸极半导体装置(10),其具有各自独立且不连续的闸极区域(62、64)。该等独立闸极区域可利用如下方法形成:沈积一闸极材料(28),以及各向异性蚀刻、抛光或回蚀该闸极材料,以在该直立闸极半导体装置之任一面上形成各自独立之闸极区域。在可能相互绝缘或导电之各独立闸极区域上形成一(66)或两个(68、70)接触点。若各独立闸极区域由多晶矽组成,则需要掺杂。在一项具体实施例中,掺杂的各独立闸极区域具有相同的导电率。在另一项具体实施例中,藉由一独立闸极区域n型掺杂,而另一独立闸极区域p型掺杂而形成一不对称之半导体装置。
申请公布号 TW200402809 申请公布日期 2004.02.16
申请号 TW092102859 申请日期 2003.02.12
申请人 摩托罗拉公司 发明人 里欧 马修;比其 颜 恩吉颜;麦可 沙德;布鲁斯E 怀特
分类号 H01L21/328 主分类号 H01L21/328
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国