发明名称 |
多探针测试组件 |
摘要 |
本实用新型涉及一种用于晶圆芯片的自动化测试组件,尤其是多探针测试组件,包括安装座和固定于安装座上的探针盘,阵列探针固定于探针盘上,阵列探针通过导线与测试仪器实现电连接。本实用新型将安装座固定在全自动探针台的机械臂上,测试台上放置被测试晶圆片,阵列探针与晶圆片上的芯片单元接触,在多个测试仪器同时发出的测试信号作用下,可一次性完成多个芯片单元的电性能测试,大大提高了测试效率,降低了测试成本。 |
申请公布号 |
CN205450046U |
申请公布日期 |
2016.08.10 |
申请号 |
CN201620060253.2 |
申请日期 |
2016.01.21 |
申请人 |
绍兴科盛电子有限公司 |
发明人 |
谢晓东 |
分类号 |
G01R1/073(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/073(2006.01)I |
代理机构 |
绍兴市越兴专利事务所(普通合伙) 33220 |
代理人 |
蒋卫东 |
主权项 |
多探针测试组件,其特征在于:包括安装座和固定于安装座上的探针盘,阵列探针固定于探针盘上,阵列探针通过导线与测试仪器实现电连接;所述安装座为铝合金材质,所述探针盘为聚乙烯材质,所述阵列探针的同一列探针逐一连接同一个测试仪器。 |
地址 |
312000 浙江省绍兴市绍兴经济开发区舜江路683号科创大厦23楼 |