Method and device for automatically positioning samples relative to an ellipsometer

摘要

Für die Justierung von Probe und Ellipsometer sind normalerweise wiederholte Eichmessungen erforderlich. Um eine automatische relative Justierung zu erreichen, ist dem Ellipsometer (10) ein bezüglich des Ellipsometers justierbares und verriegelbares Proben-Lage-Erkennungssystem (20) zugeordnet, das an eine auf dem Probentisch (2) und/oder auf das Gesamtsystem (43) Erkennungssystem (20)/Ellipsometer (10) eine Verstelleinrichtung (40) angeschlossen ist. Das Verfahren zur automatischen relativen Justierung sieht vor, daß zunächst anhand einer ersten Probe das System Probe Ellipsometer über die Symmetrie des Detektorsignals des Ellipsometers justiert wird und daß das Proben-Lage-Erkennungssystem bezüglich des Ellipsometers justiert und nach der Justierung mit diesem verriegelt wird. Bei allen weiteren Proben wird anhand der Signale des Erkennungssystems eine relative Ausrichtung von Probe und Ellipsometererkennungssystem durchgeführt. Insbesondere können die Messungen durchgeführt werden, ohne die Probe selbst zu bewegen, da die Justierung auch durch die alleinige Bewegung des Ellipsometer-Erkennungssystems erfolgen kann. <IMAGE>