发明名称 | 存储装置读取相位自动校正方法与相关机制 | ||
摘要 | 本发明公开了一种对一存储装置进行读取相位自动校正之方法与相关机制。该方法具有:对该存储装置写入至少一预定模式的数据;以多个读取相位当中之一个读取相位,读取被写入该存储装置的数据;对应于该多个读取相位当中之一个读取相位,检查该读取步骤所读取的数据相对应于该预定模式的正确性;以及根据该检查步骤之检查结果,在该多个读取相位当中决定一最佳相位。 | ||
申请公布号 | CN1635578A | 申请公布日期 | 2005.07.06 |
申请号 | CN200310124343.0 | 申请日期 | 2003.12.30 |
申请人 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 发明人 | 张义树;汤森煌 |
分类号 | G11C11/409 | 主分类号 | G11C11/409 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 马莹;邵亚丽 |
主权项 | 1.一种对一存储装置进行读取相位校正的方法,该方法包括步骤:对该存储装置写入至少一预定模式的数据;以多个相位当中的一个相位,读取该存储装置的数据;比较所读取的数据与该预定模式的数据;以及根据该比较结果,在该多个相位当中决定一读取相位。 | ||
地址 | 台湾省新竹科学园区 |