量测发光二极体特性与晶片温度的装置与方法

摘要

一种量测发光二极体特性与晶片温度的装置，包括一热传导元件。一发光二极体晶片设置于热传导元件上。一温度控制单元与热传导元件连接，以提供一温度给热传导元件，且藉由热传导元件提供该温度给发光二极体晶片。一电源与电压量测单元提供一电流给该发光二极体晶片，也量测发光二极体晶片的一顺向电压值。其中在量测模式下，电流有一高电流准位与一低电流准位交替变化的一电流波形，以施加于发光二极体晶片。在高电流准位与低电流准位时做对应的不同量测，以至少得到电压与温度的一关系曲线，最后藉由此关系曲线，在实际操作下的高电流准位量得顺向电压，推得此晶片温度与热阻值。