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Spektrometersystem (204), das dazu ausgebildet ist, ein zweidimensionales Messfeld (100), das Bildpunkte in einer ersten Richtung und Bildpunkte in einer zweiten Richtung aufweist, spektral aufzulösen, wobei sich die erste Richtung senkrecht zur zweiten Richtung befindet, umfassend: – eine Abbildungsvorrichtung (200); und – ein Spektrometer (250); – wobei die Abbildungsvorrichtung (200) dazu ausgebildet ist, das zweidimensionale Messfeld (100) in eine Mehrzahl Teilbereiche (101, 102, 103, 104, 105) aufzuteilen, wobei jeder Teilbereich (101, 102, 103, 104, 105) Bildpunkte in der ersten Richtung aufweist und die Teilbereiche (101, 102, 103, 104, 105) entlang der zweiten Richtung angeordnet sind, und die Abbildungsvorrichtung (200) dazu ausgebildet ist, die Teilbereiche (101, 102, 103, 104, 105) in einer Ebene hintereinander abzubilden; – wobei das Spektrometer (250) ein Eingangsfenster (220) aufweist und das Spektrometer (250) dazu ausgebildet ist, das Spektrum einer Mehrzahl von in einer Ebene hintereinander abgebildeten Bildpunkten auszuwerten; wobei die Abbildungsvorrichtung dazu ausgebildet ist, die Teilbereiche (101, 102, 103, 104, 105) auf das Eingangsfenster des Spektrometers abzubilden; und – die Abbildungsvorrichtung (200) eine Bildwiederholeinrichtung (202) aufweist, die das zweidimensionale Messfeld (100) als eine Mehrzahl von Wiederholbildern (111, 112, 113, 114, 115) nebeneinander abbildet. |
