发明名称 半导体元件的制造方法
摘要 一种半导体元件的制造方法,此方法系先于基底上形成闸极结构与源极/汲极区,其中闸极结构是由闸极介电层、导体层与顶盖层所构成。接着于基底上形成非晶矽化锗层,之后再进行热制程,使源极/汲极区表面之非晶矽化锗层转变成结晶矽化锗层。接着移除源极/汲极区以外的非晶矽化锗层,再移除顶盖层,最后进行自行对准金属矽化合物制程,而于导体层、源极/汲极区上形成金属矽化物。
申请公布号 TW200412625 申请公布日期 2004.07.16
申请号 TW092100754 申请日期 2003.01.15
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 陈世芳;张鼎张
分类号 H01L21/28 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路十九号三楼