发明名称 Verfahren und Anordnung zur optischen Vermessung des Oberflächenprofils von Ojekten
摘要 Ein Verfahren und eine Anordnung zum optischen Vermessen des Oberflächenprofils von Objekten, insbesondere von Zähnen, Zahnreihen oder Zahnstümpfen, sind im Hinblick auf das Erreichen einer hohen Messgenauigkeit mit einfachen Mitteln dadurch gekennzeichnet, dass eine Struktur auf die Oberfläche des Objekts (1) aufgebracht wird, wobei sich die Struktur aus einzelnen, auf der Oberfläche des Objekts (1) verteilten Messpunkten zusammensetzt, dass das Objekt (1) mittels einer Lichtquelle (4) beleuchtet wird und dass von der aufgebrachten Struktur ausgehendes Detektionslicht mittels einer Kamera unter verschiedenen Beobachtungswinkeln detektiert und aus den Kamerabilddaten das Oberflächenprofil des Objekts (1) berechnet wird.
申请公布号 DE102006039803(A1) 申请公布日期 2008.03.20
申请号 DE200610039803 申请日期 2006.08.25
申请人 LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH 发明人 REMER, LUCIUS;SEYFRIED, VOLKER
分类号 G01B11/24;A61C19/04 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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