| 摘要 |
cabeça de medição aplicável a um espectrômetro e espectrômetro. descreve-se uma cabeça de medição (1) aplicável a um espectrômetro ( 40), a cabeça de medição (1) compreendendo uma forma cilíndrica, definindo uma superfície plana e uma face convexa, a cabeça de medição (1) é configurada de modo a rece'ber uma pluralidade de componentes semicondutores (20,21) na superfície plana.a cabeça de medição (1) é dotada ainda de um centro (10) disposto na superfície plana, de modo que no centro (10) é acomodado um primeiro componente semicondutor (21) da pluralidade de componentes semicondutores (20,21), e circularmente ao redor do centro (10) é acomodado um conjunto de componentes semicondutores (20) da pluralidade de componentes semicondutores (20,21 ). a presente invenção refere-se ainda a um espectrômetro dotado da cabeça de medição proposta. |
