用于自动曝光控制以及白平衡化互补金属氧化物半导体感测器之系统与方法

摘要

本发明揭示一种在使用一互补金属氧化物半导体感测器之复数像素上平均入射光的系统与方法。该程序包括：在一重设阶段期间，重设一已知区域中的所有像素；及在一测量阶段期间，读取为一时间函数之一浮动重设节点的一电压。在该重设阶段期间，一存取选择信号与一重设电压均为高位准。该测量阶段始于该存取选择信号为低位准且该重设电压仍为高位准时。使用该系统与方法可执行自动曝光控制与自动白平衡化运算。