METHOD AND ASSEMBLY FOR FOCUSSING OPTICS, OBJECTS AND CONDENSERS IN MICROSCOPES

摘要

Um ein Verfahren und eine Anordnung zum Fokussieren von Objektiven, Objekten und Kondensoren bei unterschiedlichen Mikroskoparten zu schaffen, mit denen optimale Beleuchtungs- und Abbildungsbedingungen für die zu untersuchenden Objektebenen durch eine optimale Nachführung des Kondensors bei einer Bewegung eines Objektivs oder eines Objektes insbesondere für die Untersuchung dicker Proben erhalten werden, wird ein Verfahren vorgeschlagen, bei dem durch eine gekoppelte Fokussierbewegung eines Objektivs (2) und eines Kondensors (5) oder eines zu untersuchenden Objektes (1) und des Kondensors (5) stets auf eine Objektebene (3) innerhalb des zu untersuchenden Objektes (1) fokussiert wird, so dass Objektdetails in allen Objektebenen (3) des Objektes (1) beleuchtet und der Beleuchtungs- und Abbildungsstrahlengang aufeinander abgestimmt sind. Die gekoppelte Fokussierbewegung zum Fokussieren des Objektivs (2) und des Kondensors (5) oder des Objektes (1) und des Kondensors (5) wird entweder durch eine Entkopplung der Kondensorbewegung von der Objekttischbewegung oder durch eine Entkopplung der Kondensorbewegung von der Objektivbewegung unter Berücksichtigung von Brechungsindices, Probendicke und Fokustiefe innerhalb des Objektes (1) erhalten.