发明名称 | 次微米解析度光学同调断层摄影技术 | ||
摘要 | 一种次微米解析度光学同调断层摄影技术,包括发射短波长的光线并经过萤光粉而产生具有宽频谱之第一光线的光源,将来自该光源的第一光线分成第二光线与第三光线的干涉仪,反射该第二光线而成为参考光线的反射镜,而待测物反射上述之第三光线所产生的第四光线与该参考光线在上述之干涉仪中产生干涉;该发射宽频谱光线之光源可为一发射白光的发光二极体,而该发射白光的发光二极体可由发射蓝光或紫外光的发光二极体与适当之萤光粉所构成。 | ||
申请公布号 | TW200426397 | 申请公布日期 | 2004.12.01 |
申请号 | TW092114694 | 申请日期 | 2003.05.30 |
申请人 | 财团法人工业技术研究院 | 发明人 | 孙启光 |
分类号 | G02B27/10 | 主分类号 | G02B27/10 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | 新竹县竹东镇中兴路四段一九五号 |