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经营范围
发明名称
DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号
EP2030030(A1)
申请公布日期
2009.03.04
申请号
EP20060756016
申请日期
2006.05.29
申请人
FREESCALE SEMICONDUCTOR, INC.
发明人
BARUCH, EZRA;PRIEL, MICHAEL;KUZMIN, DAN
分类号
G01R31/28
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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