| 摘要 |
【課題】本発明の目的は、公知の従来技術に関連する問題を軽減及び除去すること、特に、塩基、酸等の極めて低い濃度の気相成分の検出のために、試料ガス流の粒子をイオン化する方法および装置を提供することである。【解決手段】試料ガス流の粒子（分子またはクラスター）をイオン化するための装置が、試料ガス流を提供するための第１流管および一次イオン生成領域で候補試薬ガス流の粒子から試薬一次イオンを生成するための生成器を備えている。この装置はまた、試薬一次イオンと試料ガス流の粒子との間の相互作用を準備することにより検出器に送られる試料ガス流を生成するために、試料ガス流中に試薬イオンを導入するための相互作用領域を有する。試薬一次イオンを生成するための生成器は、非放射性の軟Ｘ線放射源である。【選択図】図１ |
