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Verfahren zur konfokalen 4-Pi-Mikroskopie, gekennzeichnet durch folgende Schritte: • Kohärentes Beleuchten einer Probe von zwei Seiten durch je ein Objektiv mit Beleuchtungslicht, das zumindest eine Beleuchtungswellenlänge aufweist, wobei durch Interferenz des Beleuchtungslichts in der Probe eine stehende Beleuchtungswelle mit einem Beleuchtungs-Hauptmaximum und mit Beleuchtungs-Nebenmaxima erzeugt wird; • Detektieren des von der Probe ausgehenden Detektionslichtes, das zumindest eine Detektionswellenlänge aufweist, durch die beiden Objektive hindurch, wobei das Detektionslicht zur Interferenz gebracht wird und dadurch in der Probe ein Detektionsmuster mit einem Detektions-Hauptmaximum und mit Detektions-Nebenmaxima derart erzeugt wird, dass die Beleuchtungs-Nebenmaxima und die Detektions-Nebenmaxima sich an unterschiedlichen Orten befinden; und • Markieren der Probe mit zumindest einem Fluoreszenzfarbstoff, der derart ausgewählt ist, dass das Verhältnis von Beleuchtungswellenlänge zu Detektionswellenlänge im Bereich von 0,5 bis 0,9 oder im Bereich von 0,6 bis 0,8 oder bei 0,75 liegt; • Vorsehen einer Detektionslochblende, deren Öffnungsdurchmesser kleiner als 1 Airyscheibe oder von 0,7 bis 0,8 Airyscheiben oder von 0,7 Airyscheiben ist. |
