| 摘要 |
본 고안은 검사용 소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 반도체 디바이스의 단자와 테스트 장치의 검침단자를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 검사용 소켓에 있어서, 상기 반도체 디바이스가 삽입되는 수용공이 중앙에 마련되는 인서트; 상기 테스트 장치 측에 설치되고 상기 인서트를 수용하기 위한 중앙공이 마련되어 있으며 상기 중앙공 내에 수용되는 인서트를 분리가능하게 결합하는 베이스부재; 상기 수용공을 가로지르면서 상기 인서트의 하면에 배치되고 상기 수용공 내에 삽입되는 반도체 디바이스를 지지하며 반도체 디바이스의 테스트 장치의 검침단자를 서로 전기적으로 연결가능하게 하는 지지판;을 포함하되, 상기 지지판의 가장자리를 억지끼움에 의하여 분리가능하게 결합하기 위하여 상기 인서트의 하면에서 돌출되는 결합돌출부가 마련되어 있는 검사용 소켓에 대한 것이다. |
