发明名称 用以形成矽氧化膜之方法及装置
摘要 本发明之用以形成矽氧化膜之方法,系将表面具有矽层之被处理基板搬入反应容器内已设定为400℃以下之搬入温度之处理区域内。接着,将收纳有前述被处理基板之前述处理区域从前述搬入温度升温到650℃以上之处理温度。在前述处理区域升温时,将水蒸气供给到前述反应容器内。在此,将前述处理区域之环境气体之前述水蒸气浓度设定为第1浓度,前述处理区域之压力为第1减压压力。将前述处理区域升温到前述处理温度之后,将氧化气体供给到前述反应容器内,使前述矽层氧化以形成矽氧化膜。
申请公布号 TW200507111 申请公布日期 2005.02.16
申请号 TW093119093 申请日期 2004.06.29
申请人 东京威力科创股份有限公司;东芝股份有限公司 发明人 青木公也;铃木胜司;白川麻美;多胡研治;铃木启介;佐喜和朗;森伸二
分类号 H01L21/316 主分类号 H01L21/316
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 日本