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发明名称
用以形成矽氧化膜之方法及装置
摘要
本发明之用以形成矽氧化膜之方法,系将表面具有矽层之被处理基板搬入反应容器内已设定为400℃以下之搬入温度之处理区域内。接着,将收纳有前述被处理基板之前述处理区域从前述搬入温度升温到650℃以上之处理温度。在前述处理区域升温时,将水蒸气供给到前述反应容器内。在此,将前述处理区域之环境气体之前述水蒸气浓度设定为第1浓度,前述处理区域之压力为第1减压压力。将前述处理区域升温到前述处理温度之后,将氧化气体供给到前述反应容器内,使前述矽层氧化以形成矽氧化膜。
申请公布号
TW200507111
申请公布日期
2005.02.16
申请号
TW093119093
申请日期
2004.06.29
申请人
东京威力科创股份有限公司;东芝股份有限公司
发明人
青木公也;铃木胜司;白川麻美;多胡研治;铃木启介;佐喜和朗;森伸二
分类号
H01L21/316
主分类号
H01L21/316
代理机构
代理人
恽轶群;陈文郎
主权项
地址
日本
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