发明名称 METHOD FOR DESIGNING A MASK FOR AN INTEGRATED CIRCUIT HAVING SEPARATE TESTING OF DESIGN RULES FOR DIFFERENT REGIONS OF A MASK PLANE
摘要
申请公布号 EP1910952(A1) 申请公布日期 2008.04.16
申请号 EP20060792635 申请日期 2006.08.02
申请人 X-FAB SEMICONDUCTOR FOUNDRIES AG 发明人 LERNER, RALF
分类号 G06F17/50 主分类号 G06F17/50
代理机构 代理人
主权项
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