发明名称 Verfahren und Vorrichtung zum hochaufgelösten optischen Abtasten einer Probe
摘要 Ein Verfahren zum hochaufgelösten optischen Abtasten einer Probe, vorzugsweise unter Verwendung eines Laser-Raster-Fluoreszenzmikroskops, wobei die Probe (10) eine Substanz (S1) umfasst, die in unterschiedliche Energiezustände - erster Zustand Z1 und zweiter Zustand Z2 - versetzbar ist, wobei sich der erste Zustand Z1 und der zweite Zustand Z2 in mindestens einer optischen Eigenschaft voneinander unterscheiden, wobei die Probe (10) zur bereichsweisen Erzeugung des ersten Zustandes Z1 der Substanz (S1) mit Licht einer Wellenlänge des Anregungsspektrums (1) der Substanz (S1) beleuchtet wird, wobei die Probe (10) zur Erzeugung des zweiten Zustandes Z2 der Substanz (S1) in einem Fokusrandbereich der Anregung mit Licht einer geeigneten Abregungswellenlänge beleuchtet wird und wobei von der Probe (10) ausgehendes Emissionslicht (85), das aus einem Zerfall verbliebener erster Zustände Z1 resultiert, mittels einer Detektionseinrichtung (89) nachgewiesen wird, ist dadurch gekennzeichnet, dass die Probe (10) mindestens eine weitere Substanz (S2) umfasst, die in einen ersten Zustand Z1' und in einen zweiten Zustand Z2' überführbar ist, wobei sich die Substanzen (S1, S2) in mindestens einer Eigenschaft voneinander unterscheiden und in mindestens einer anderen Eigenschaft zumindest teilweise übereinstimmen und wobei beim Abtasten der Probe (10) die Schritte der Anregung und/oder der Abregung und/oder der Detektion für die einzelnen Substanzen (S1, S2) zeitlich voneinander getrennt ...
申请公布号 DE102006047816(A1) 申请公布日期 2008.04.17
申请号 DE200610047816 申请日期 2006.10.07
申请人 LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH 发明人 GUGEL, HILMAR
分类号 G01N21/64 主分类号 G01N21/64
代理机构 代理人
主权项
地址