发明名称 | 优化的跟踪方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种用于优化光学扫描器沿着光记录载体的磁道(1L,1G)进行跟踪的方法,该磁道具有按照致密顺序排列的信息标记(3),并以显著更小的密度具有基本的特性改变(1L/1G,1G/1L)。该方法具有如下步骤:形成磁道误差信号(TE,TECL,PPTE),检测磁道(1L,1G)的基本特性改变的出现,通过将磁道误差信号(TE,TECL,PPTE)就在基本特性改变前出现的值和在基本特性改变后紧接着出现的值进行比较来形成偏移值(TO),在考虑该偏移值(TO)的情况下形成磁道误差信号(TE,TECL,PPTE),以及重复上述步骤。 | ||
申请公布号 | CN100501842C | 申请公布日期 | 2009.06.17 |
申请号 | CN03813168.4 | 申请日期 | 2003.06.05 |
申请人 | 汤姆森特许公司 | 发明人 | 克里斯托弗·迪特里克;克里斯琴·比克勒 |
分类号 | G11B7/09(2006.01)I | 主分类号 | G11B7/09(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 马 莹;邵亚丽 |
主权项 | 1. 一种用于优化光学扫描器沿着光记录载体的磁道(1L,1G)进行的跟踪的方法,该磁道(1L,1G)具有按照致密顺序排列的信息标记(3),并且还具有出现密度比信息标记出现密度要小的基本特性改变(1L/1G,1G/1L),其中所述基本特性改变是指轨道类型的可检测的过渡,在所述方法中执行以下步骤:-形成磁道误差信号(TE,TECL,PPTE),-检测磁道(1L,1G)的基本特性改变的出现,其特征在于-通过将磁道误差信号(TE,TECL,PPTE)在紧邻在基本特性改变前出现的值和在基本特性改变后紧接着出现的值进行比较来形成偏移值(TO),-通过将所述偏移值(TO)与磁道误差信号(TE,TECL,PPTE)叠加来形成优化的磁道误差信号,-重复上述步骤。 | ||
地址 | 法国布洛涅 |