发明名称 POLISHING COMPOSITION POLISHING METHOD AND METHOD FOR PRODUCING POLISHING COMPOSITION
摘要 본 발명은, 연마 입자로서 결정성의 금속 산화물 입자를 포함하는 연마 조성물로서, 상기 금속 산화물 입자가, 분말 X선 회절 패턴에 있어서의 회절 강도가 최대로 되는 피크 부분의 반값폭이 1미만인 것인 것을 특징으로 하는 연마 조성물이다. 이에 의해 반도체 기판의 연마 공정, 특히 텅스텐 등의 금속층을 가지는 반도체 기판의 화학기계 연마 공정에 있어서, 높은 연마 속도를 가지고, 또한 반도체 장치의 신뢰성 저하의 원인으로 되는 스크래치 및 디슁 등의 결함의 발생을 억제하는 연마 조성물 및 연마 방법, 그리고 연마 조성물의 제조 방법이 제공된다.
申请公布号 KR20160131006(A) 申请公布日期 2016.11.15
申请号 KR20167023643 申请日期 2015.02.04
申请人 SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD. 发明人 NOJIMA YOSHIHIRO
分类号 C09G1/02;B24B37/04;C09K3/14;H01L21/304;H01L21/306;H01L21/321 主分类号 C09G1/02
代理机构 代理人
主权项
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