| 发明名称 | 校验处理方法、装置及系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种校验处理方法、装置及系统，其中，该方法包括：将待校验信息发送给现场维护装置，其中，所述待校验信息用于所述现场维护装置根据所述待校验信息对待校验设备进行校验处理，所述现场维护装置至少包括第一现场维护装置和第二现场维护装置，所述待校验设备至少包括光纤的第一端待校验设备和所述光纤的第二端待校验设备；接收所述现场维护装置根据所述待校验信息对所述待校验设备进行校验处理的校验结果，解决了相关技术中对光纤的校验较复杂且效率低的问题，降低了复杂度且提高了校验的效率。 | ||
| 申请公布号 | CN106257845A | 申请公布日期 | 2016.12.28 |
| 申请号 | CN201510333185.2 | 申请日期 | 2015.06.16 |
| 申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 张高科 |
| 分类号 | H04B10/071(2013.01)I;H04B10/079(2013.01)I;H04L12/24(2006.01)I | 主分类号 | H04B10/071(2013.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 江舟;李灵洁 |
| 主权项 | 一种校验处理方法，其特征在于，包括：将待校验信息发送给现场维护装置，其中，所述待校验信息用于所述现场维护装置根据所述待校验信息对待校验设备进行校验处理，所述现场维护装置至少包括第一现场维护装置和第二现场维护装置，所述待校验设备至少包括光纤的第一端待校验设备和所述光纤的第二端待校验设备；接收所述现场维护装置根据所述待校验信息对所述待校验设备进行校验处理的校验结果。 | ||
| 地址 | 518057 广东省深圳市南山区科技南路55号 | ||