发明名称 电磁干扰侦测装置
摘要 电磁干扰(Electromagnetic Interference,EMI)侦测装置,至少包括一探针、一讯号输出部与一讯号接受部。探针以单点接触的方式接触杂讯源以接收一杂讯。讯号输出部与探针连接,并输出对应于此杂讯之讯号。当探针接触杂讯源时,杂讯系自探针接收,再透过讯号输出部,输出讯号至讯号接受部。本发明藉由探针单点接触杂讯源以接收杂讯,用以迅速并正确地单点侦测杂讯产生处,且快速地对该处的杂讯产生原因加以分析并消除。
申请公布号 TWI234358 申请公布日期 2005.06.11
申请号 TW092135088 申请日期 2003.12.11
申请人 明基电通股份有限公司 发明人 林献堂;林贤峰
分类号 H04B15/02 主分类号 H04B15/02
代理机构 代理人 林素华 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2
主权项 1.一种电磁干扰(Electromagnetic Interference,EMI)侦测装置,用以侦测一杂讯源之一杂讯,该侦测装置包括:一探针,用以单点接触该杂讯源以接收该杂讯;一讯号输出部,与该探针连接,并输出对应于该杂讯之一讯号;以及一讯号接受部,用以接收该讯号;其中,当该探针接触该杂讯源时,该杂讯系自该探针接收,再透过该讯号输出部,输出该讯号至该讯号接受部。2.如申请专利范围第1项所述之侦测装置,其中该侦测装置更包括:一天线,与该讯号输出部电性连接,该天线系用以将自该讯号输出部输出之该讯号转为一无线讯号,并输出至该讯号接受部。3.如申请专利范围第2项所述之侦测装置,其中该天线系可伸缩以适应不同频率之无线讯号。4.如申请专利范围第1项所述之侦测装置,其中该讯号接受部系为一杂讯显示器。5.一种电磁干扰(Electromagnetic Interference,EMI)侦测装置,用以侦测一杂讯源之一杂讯,该侦测装置包括:一第一单点探针与一第二单点探针,用以选择性接触该杂讯源以接收该杂讯;一杂讯抑制元件,与该第二单点探针串接,该杂讯抑制元件系用以过滤自该第二单点探针接收之该杂讯;一讯号输出部,与该第一单点探针以及该第二单点探针分别连接,并对应于该杂讯分别输出一第一讯号与一第二讯号;以及一讯号接受部,用以接收该第一讯号及该第二讯号;其中,当选择以该第一单点探针接触该杂讯源时,该第一单点探针系接收该杂讯,对应至该第一讯号并透过该讯号输出部输出该第一讯号至该讯号接受部;其中,当选择以该第二单点探针接触该杂讯源时,该第二单点探针系接收该杂讯,该杂讯经由该杂讯抑制元件过滤后产生该第二讯号,该讯号输出部输出该第二讯号至该讯号接受部。6.如申请专利范围第5项所述之侦测装置,其中该杂讯抑制元件系一电感。7.如申请专利范围第5项所述之侦测装置,其中该离讯抑制元件系一电阻。8.如申请专利范围第5项所述之侦测装置,其中该杂讯抑制元件系一限流器(bead)。9.如申请专利范围第5项所述之侦测装置,其中该侦测装置更包括:一天线,与该讯号输出部电性连接,该天线系用以将自该讯号输出部输出之该讯号转为一无线讯号,并输出至该讯号接受部。10.如申请专利范围第9项所述之侦测装置,其中该天线系可伸缩以适应不同频率之无线讯号。11.如申请专利范围第5项所述之侦测装置,其中该侦测装置更包括复数个杂讯抑制元件,用以选择性地与该第二单点探针串接,每一杂讯抑制元件具有一预定阻抗値。12.如申请专利范围第11项所述之侦测装置,其中该侦测装置更包括一选择器,系用以容纳该些杂讯抑制元件,藉由一使用者操作该选择器,以决定与该第二探针连接之一单一元件。13.如申请专利范围第12项所述之侦测装置,其中该选择器系一可旋转之装置,透过该使用者旋转该选择器,而达到选择与该第二探针连接之该单一元件。14.如申请专利范围第5项所述之侦测装置,其中该侦测装置更包括:一第三单点探针,用以选择性接触该杂讯源以接收该杂讯;以及一杂讯传递元件,系与该第三单点探针耦接,且该杂讯传递元件系用以将由该第三单点探针所接收之部分该杂讯传递至一接地端;其中,当选择以该第三单点探针接触该杂讯原时,该第三单点探针系接收该杂讯并将部分之该杂讯经由该杂讯传递元件传递至该接地端,使该讯号输出部输出一第三讯号至该讯号接收部。15.如申请专利范围第14项所述之侦测装置,其中该第三讯号系对应至该第三单点探针所输出之该其余部分之杂讯。16.如申请专利范围第14项所述之侦测装置,其中该杂讯传递元件系一电容。17.如申请专利范围第14项所述之侦测装置,其中该侦测装置更包括一选择器,系用以容纳该杂讯传递元件与该杂讯抑制元件,藉由一使用者操作该选择器,以决定接触该杂讯源之一相对应探针。18.如申请专利范围第17项所述之侦测装置,其中该选择器系一可旋转之装置,透过该使用者旋转该选择器,而达到选择与该杂讯源接触之该相对应探针。19.如申请专利范围第14项所述之侦测装置,其中该侦测装置更包括复数个杂讯传递元件,用以选择性地与该第三单点探针串接,每一杂讯传递元件具有一预定电容値。20.如申请专利范围第19项所述之侦测装置,其中该侦测装置更包括一选择器,系用以容纳该杂讯传递元件与该些杂讯抑制元件,藉由一使用者操作该选择器,以决定接触该杂讯源之一相对应探针。21.如申请专利范围第20项所述之侦测装置,其中该选择器系一可旋转之装置,透过该使用者旋转该选择器,而达到选择接触该杂讯源之该相对应探针。22.如申请专利范围第5项所述之侦测装置,其中该讯号接受部系为一杂讯显示器。23.一种电磁干扰(Electromagnetic Interference,EMI)侦测装置,用以侦测一杂讯源之一杂讯,该侦测装置包括:一第一单点探针与一第二单点探针,用以选择性接触该杂讯源以接收该杂讯;一杂讯传递元件,系与该第二单点探针耦接,且该杂讯传递元件系用以将由该第二单点探针所接收之部分该杂讯传递至一接地端;一讯号输出部,与该第一单点探针以及该第二单点探针分别连接,并对应于该杂讯分别输出一第一讯号与一第二讯号;以及一讯号接受部,用以接收该第一讯号及该第二讯号;其中,当选择以该第一单点探针接触该杂讯源时,该第一单点探针系接收该杂讯,对应至该第一讯号并透过该讯号输出部输出该第一讯号至该讯号接受部;其中,当选择以该第二单点探针接触该杂讯源时,该第二单点探针系接收该杂讯,且部分之该杂讯经由该杂讯传递元件传递至该接地端,使该讯号输出部输出该第二讯号至该讯号接受部。24.如申请专利范围第23项所述之侦测装置,该杂讯传递元件系一电容。25.如申请专利范围第23项所述之侦测装置,其中该侦测装置更包括:一天线,与该讯号输出部电性连接,该天线系用以将自该讯号输出部输出之该第一或第二讯号转为一无线讯号,并输出至该讯号接受部。26.如申请专利范围第24项所述之侦测装置,其中该天线系可伸缩以适应不同频率之无线讯号。27.如申请专利范围第23项所述之侦测装置,其中该讯号接受部系为一杂讯显示器。图式简单说明:第1A图与第1B图绘示乃依照本发明第一实施例之电磁干扰侦测装置示意图。第2A图与第2B图绘示乃本发明第二实施例之电磁干扰侦测装置示意图。第3图绘示乃依照本发明第三实施例之电磁干扰侦测装置示意图。第4图绘示乃依照本发明第四实施例之电磁干扰侦测装置示意图。第5图绘示乃传统之电磁干扰侦测架构之示意图。
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