发明名称 Verfahren zum Messen der Oberflächengeometrie von Warmband
摘要
申请公布号 DE19709992(C1) 申请公布日期 1998.10.01
申请号 DE19971009992 申请日期 1997.03.11
申请人 BETRIEBSFORSCHUNGSINSTITUT VDEH - INSTITUT FUER ANGEWANDTE FORSCHUNG GMBH, 40237 DUESSELDORF, DE;GOM - GESELLSCHAFT FUER OPTISCHE MESTECHNIK MBH, 38106 BRAUNSCHWEIG, DE;KRUPP-HOESCH-STAHL AG, 44145 DORTMUND, DE 发明人 MUELLER, ULRICH, DR., 40789 MONHEIM, DE;PEUKER, GUSTAV, 41066 MOENCHENGLADBACH, DE;SONNENSCHEIN, DETLEF, 45149 ESSEN, DE;WINTER, DETLEF, DR., 38527 MEINE, DE;DEGNER, MICHAEL, DR.-ING., 44229 DORTMUND, DE;THIEMANN, GERD, DIP.-ING., 44879 BOCHUM, DE
分类号 B21B37/42;B21B37/44;B21B37/54;B21B37/76;B21B38/00;B21B38/02;B21B38/04;B21B45/02;B21C51/00;G01B11/30;(IPC1-7):B21B38/02;B21B37/28 主分类号 B21B37/42
代理机构 代理人
主权项
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