发明名称 SEMICONDUCTOR TEST DEVICE
摘要
申请公布号 JPH05134003(A) 申请公布日期 1993.05.28
申请号 JP19910328123 申请日期 1991.11.14
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 SHIMAZAKI MASAMITSU
分类号 G01R31/26;G01R31/28;G01R31/319;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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