发明名称 |
测试装置及测试方法 |
摘要 |
本发明提供一种测试装置,是对被测试器件进行测试的测试装置,包括:产生用于规定应供给至被测试器件的测试信号的测试图案的图案生成部;产生表示将测试信号供给至被测试器件时序的时序信号的时序信号产生部;对测试图案进行滤波,输出表示与测试图案相对应的抖动的抖动控制信号的数字滤波器;根据抖动控制信号而使时序信号延迟,借此将抖动施加至时序信号的抖动施加部;以及波形成形部,以施加了抖动的时序信号为基准,生成已形成测试图案的测试信号。 |
申请公布号 |
CN101657731A |
申请公布日期 |
2010.02.24 |
申请号 |
CN200880012375.2 |
申请日期 |
2008.04.21 |
申请人 |
爱德万测试株式会社 |
发明人 |
渡边大辅;冈安俊幸 |
分类号 |
G01R31/3183(2006.01)I;H03K5/156(2006.01)I;G01R29/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/3183(2006.01)I |
代理机构 |
北京英特普罗知识产权代理有限公司 |
代理人 |
刘永红 |
主权项 |
1.一种测试装置,是对被测试器件进行测试的测试装置,其特征在于所述测试装置包括:图案生成部,产生用于规定应供给至上述被测试器件的测试信号的测试图案;时序信号产生部,产生表示将测试信号供给至上述被测试器件的时序的时序信号;数字滤波器,对所述测试图案进行滤波,输出表示与所述测试图案相对应的抖动的抖动控制信号;抖动施加部,根据所述抖动控制信号而使所述时序信号延迟,借此将抖动施加至所述时序信号;以及波形成形部,以施加了抖动的所述时序信号为基准,生成已形成所述测试图案的测试信号。 |
地址 |
日本东京都 |