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发明名称
光阻下层膜材料及图型之形成方法
摘要
本发明之课题系提供多层光阻过程用,尤其是2层光阻过程用之光阻下层膜材料,尤其是相对于短波长之曝光,可作为优异防反射膜作用,亦即透明性高,具有最适n值,k值,而且基板加工中蚀刻耐性优异之光阻下层膜材料,及使用此之微影术以在基板形成图形之方法。本发明之解决手段系,为微影术所用之多层光阻膜之光阻下层膜材料,其含有,具有至少,下述一般式(1)所示重覆单元之聚合物为其特征之光阻下层膜材料。
申请公布号
TW200528921
申请公布日期
2005.09.01
申请号
TW093117519
申请日期
2004.06.17
申请人
信越化学工业股份有限公司
发明人
山润;加藤英人
分类号
G03F7/004
主分类号
G03F7/004
代理机构
代理人
林志刚
主权项
地址
日本
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