| 发明名称 |
Verfahren und Vorrichtung zum vollautomatischen Handhaben von elektrisch zu prüfenden Prüflingen |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE59604203(D1) |
申请公布日期 |
2000.02.24 |
| 申请号 |
DE19965004203 |
申请日期 |
1996.03.16 |
| 申请人 |
ATG TEST SYSTEMS GMBH |
发明人 |
HAPP, CHRISTIAN;GEIER, RUDOLF |
| 分类号 |
B65H3/24;H05K13/00;(IPC1-7):H05K13/00 |
主分类号 |
B65H3/24 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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