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发明名称 TEST PIN OF AUTO-TESTING MACHINE
摘要
申请公布号 KR200182200(Y1) 申请公布日期 2000.06.01
申请号 KR19980001121U 申请日期 1998.02.03
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO.,LTD. 发明人 HWANG BO, WON DONG
分类号 G01R1/00;(IPC1-7):G01R1/00 主分类号 G01R1/00
代理机构 代理人
主权项
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