| 发明名称 | 流体流量测量装置 | ||
| 摘要 | 本发明实现一种防止污浊物质在副通路上堆积，可以高精度地测量流体流量的流体流量测量装置。在圆筒棒(3)的表面形成加热图案(34)。向该加热图案(34)通电，产生热量，该热量通过绝缘层传递至副通路(26)。该热量缓缓地传递直至副通路(26)的前端，使附着在副通路(26)内的污浊物质等燃烧消失。因此，可以实现一种防止在副通路(26)上堆积污浊物质，高精度地测量流体流量测量的流体流量测量装置。 | ||
| 申请公布号 | CN101458104A | 申请公布日期 | 2009.06.17 |
| 申请号 | CN200810183726.8 | 申请日期 | 2008.12.11 |
| 申请人 | 株式会社日立制作所 | 发明人 | 星加浩昭;德安升;国分尚德;樫尾香织 |
| 分类号 | G01F1/684(2006.01)I | 主分类号 | G01F1/684(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 李贵亮 |
| 主权项 | 1. 一种流体流量测量装置，其具备：副通路，其被配置在被测量流体流动的主通路内，在上述主通路内流动的被测量流体的一部分流入流出该副通路，检测元件，其被配置在该副通路内，检测被测量流体的流量，其特征在于，上述流体流量测量装置具备对形成上述副通路的部件进行加热的副通路加热机构。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||