发明名称 |
用于制造自行对准接触窗结构的方法 |
摘要 |
本发明提供一种用于制造自行对准接触窗结构的方法,其在一半导体基底上具有至少二导电结构,所述导电结构位于将形成自行对准接触窗的位置旁,并有多个光刻结构位于导电结构上,每一光刻结构具有一顶面及一垂直面;一介电层覆盖于半导体基底上,然后蚀刻去除部份介电层,以暴露出每一光刻结构的顶面与部份垂直面;再在每一露出的垂直表面上形成多个间隙壁。因此,当后续在二导电结构之间形成自行对准接触窗结构时,此氮化物间隙壁的部份周围具有较低的寄生电容。 |
申请公布号 |
CN1327490C |
申请公布日期 |
2007.07.18 |
申请号 |
CN200310108195.3 |
申请日期 |
2003.10.27 |
申请人 |
上海宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
许允埈 |
分类号 |
H01L21/30(2006.01);H01L21/311(2006.01);H01L21/3213(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/30(2006.01) |
代理机构 |
上海光华专利事务所 |
代理人 |
余明伟 |
主权项 |
1、一种用于制造自行对准接触窗结构的方法,其特征在于,包括下列步骤:提供一半导体基底,其上形成至少二导电结构,该导电结构位于将形成自行对准接触窗的位置二侧,并有多个光刻结构分别位于该导电结构上,且每一光刻结构各具有一顶面及一垂直面;形成一介电层覆盖于该半导体基底上;蚀刻去除部份该介电层,以露出该光刻结构的顶面与部份该垂直面;以及形成多个间隙壁,每一该间隙壁沉积于每一露出的该垂直表面上;在该介电层、该多个间隙壁及该光刻结构露出的该多个顶面形成一内层介电层;以及移除位于该二导电结构之间的部份该内层介电层与该介电层,以作为后续制作该自行对准接触窗结构。 |
地址 |
201203上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号 |