发明名称 用于制造自行对准接触窗结构的方法
摘要 本发明提供一种用于制造自行对准接触窗结构的方法,其在一半导体基底上具有至少二导电结构,所述导电结构位于将形成自行对准接触窗的位置旁,并有多个光刻结构位于导电结构上,每一光刻结构具有一顶面及一垂直面;一介电层覆盖于半导体基底上,然后蚀刻去除部份介电层,以暴露出每一光刻结构的顶面与部份垂直面;再在每一露出的垂直表面上形成多个间隙壁。因此,当后续在二导电结构之间形成自行对准接触窗结构时,此氮化物间隙壁的部份周围具有较低的寄生电容。
申请公布号 CN1327490C 申请公布日期 2007.07.18
申请号 CN200310108195.3 申请日期 2003.10.27
申请人 上海宏力半导体制造有限公司 发明人 许允埈
分类号 H01L21/30(2006.01);H01L21/311(2006.01);H01L21/3213(2006.01) 主分类号 H01L21/30(2006.01)
代理机构 上海光华专利事务所 代理人 余明伟
主权项 1、一种用于制造自行对准接触窗结构的方法,其特征在于,包括下列步骤:提供一半导体基底,其上形成至少二导电结构,该导电结构位于将形成自行对准接触窗的位置二侧,并有多个光刻结构分别位于该导电结构上,且每一光刻结构各具有一顶面及一垂直面;形成一介电层覆盖于该半导体基底上;蚀刻去除部份该介电层,以露出该光刻结构的顶面与部份该垂直面;以及形成多个间隙壁,每一该间隙壁沉积于每一露出的该垂直表面上;在该介电层、该多个间隙壁及该光刻结构露出的该多个顶面形成一内层介电层;以及移除位于该二导电结构之间的部份该内层介电层与该介电层,以作为后续制作该自行对准接触窗结构。
地址 201203上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号
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