发明名称 用于测试积体电路之系统与方法
摘要 揭示一种模组(236、236'),其装容一个积体测试系统(108),该系统包含一个或者多个紧密耦合于一个计算引擎(208)之测试引擎(200、202)。其中一个或者多个测试引擎包含至少一个用以一个或者多个刺激信号来激励待测装置(104)电气回路之刺激信号仪器(212)、以及至少一个测试此待测装置对刺激信号之响应并且产生测试资料之测试仪器(216)。计算引擎包含计算逻辑电气回路(800),藉以判断待测装置机载的电气回路是合格或是不合格。此积体测试系统进一步地包含一通讯引擎(204),提供积体测试系统自动测试设备(116)及/或存在于主电脑(136)上的专门使用者介面(140)之间的双向通讯。
申请公布号 TW200538749 申请公布日期 2005.12.01
申请号 TW094114095 申请日期 2005.05.02
申请人 DFT微系统公司 发明人 高登W 罗勃特斯;安东尼H 詹;杰佛瑞D 杜尔登;穆罕默德M 哈费德;夕巴斯汀 拉伯格;巴迪亚 皮须戴德;克雷伦斯KL 谭
分类号 G01R31/307 主分类号 G01R31/307
代理机构 代理人 林镒珠
主权项
地址 美国