发明名称 |
分析固体样品的方法 |
摘要 |
一种分析固体样品的方法包括下面步骤:把惰性载气引入该池中;激光光束照射惰性载气中固体样品表面的初旧处理步,该激光光束脉冲半宽度为0.001μsec或更宽,脉冲能量密度为0.001GM/cm<SUP>2</SUP>或更高,频率为100Hz或更高;在惰性载气中产生细粒,条件是产生细粒的速率V(μg/sec)和选择比S满足下面方程,选择比是细粒内目的分析元素浓度与固体样品内目的分析元素浓度的比率:S≤0.25logV+1.5,S≥-0.2logV+0.6,0.1≤V≤100把产生的细粒引入检测器。 |
申请公布号 |
CN1117584A |
申请公布日期 |
1996.02.28 |
申请号 |
CN94115712.1 |
申请日期 |
1994.08.25 |
申请人 |
日本钢管株式会社 |
发明人 |
望月正;石桥耀一;秋吉孝则;岩田嘉人;城代哲史;坂下明子 |
分类号 |
G01N21/63 |
主分类号 |
G01N21/63 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
张元忠 |
主权项 |
1.一种分析固体样品的方法,其包括:把固体样品放在池中;把惰性载气引入该池中,该载气含杂质碳1ppm或更少;激光光束照射惰性载气中固体样品表面的初旧处理步,该激光光束脉冲半宽度为0.001μsec或更宽,脉冲能量密度为0.001GM/cm2或更高,频率为100Hz或更高;在惰性载气中产生细粒,条件是产生细粒的速率V(μg/Sec)和选择比S满足下面方程,选择比是细粒内目的分析元素浓度与固体样品内目的分析元素浓度的比率; S≤0.25log V+1.5, S≥-0.2log V+0.6, 0.1 ≤V≤100把产生的细粒引入检测器,和分析细粒内目的元素的浓度。 |
地址 |
日本东京都 |