发明名称 PROCESS AND DEVICE FOR MEASURING THE RADIATION DEPTH OF RADIATION
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf eine Messeinrichtung bestehend aus zwei Sensoren zur Messung von Strahlendosen. Als Sensoren werden beispielsweise bei der Vorrichtung Lichtwellenleiter eingesetzt. Diese sind entlang einer geraden Linie angeordnet. Der eine Lichtwellenleiter deckt eine längere Strecke ab entlang der Linie als der andere Sensor. Der Unterschied bezüglich der abgedeckten Strecke beträgt insbesondere wenigstens 20 mm. Mit der Messeinrichtung wird verfahrensgemäss wie folgt gemessen: Mit dem räumlich ausgedehnteren Sensor wird die Strahlendosis entlang der Strahlung bis zur erwarteten Eindringtiefe gemessen. Mittels des räumlich weniger ausgedehnten Sensors wird die Strahlendosis in einem innerhalb des Strahlengangs befindlichen Volumenelementes ermittelt. Aus den beiden Messwerten wird ein Quotient gebildet. Aus dem Quotienten wird anhand von Referenzwerten die Strahlungstiefe berechnet. Mittels der Vorrichtung kann schnell und einfach eine Eindringtiefe einer ionisierenden Strahlung, z.B in ein Gewebe ermittelt werden.
申请公布号 WO9705506(A1) 申请公布日期 1997.02.13
申请号 WO1996DE01405 申请日期 1996.07.25
申请人 FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH;GRIPP, STEFAN;HAESING, FRIEDRICH-WOLFGANG;BUEKER, HARALD 发明人 GRIPP, STEFAN;HAESING, FRIEDRICH-WOLFGANG;BUEKER, HARALD
分类号 A61N5/10;G01T1/06;G01T5/08;(IPC1-7):G01T5/08 主分类号 A61N5/10
代理机构 代理人
主权项
地址