IC TESTER,申请号JP19970134957-传众专利搜索

发明名称	IC TESTER
摘要
申请公布号	JPH10325857(A)	申请公布日期	1998.12.08
申请号	JP19970134957	申请日期	1997.05.26
申请人	YOKOGAWA ELECTRIC CORP	发明人	MURATA MICHIO
分类号	G01R31/319;(IPC1-7):G01R31/319	主分类号	G01R31/319
代理机构		代理人
主权项
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