发明名称 METHOD OF FORMING SPACERS IN CMOS DEVICES
摘要 <p>A sidewall spacer is formed in a CMOS device by depositing a layer of silicon nitride on a wafer and anisotropically etching away the silicon nitride layer with a chorinebased plasma etchant.</p>
申请公布号 WO2001084628(A1) 申请公布日期 2001.11.08
申请号 CA2001000639 申请日期 2001.05.03
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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