发明名称 自动选择等化模式之方法及相关装置
摘要 本发明提供一种自动选择等化模式之方法及相关装置,该方法包括下列步骤:提供第一取样脉冲以对等化信号进行取样;提供具有距第一取样脉冲预定相位差之第二取样脉冲,以对等化信号进行取样;根据第一取样脉冲与第二取样脉冲对等化信号建立第一观察视窗及第二观察视窗,以判断相关于该等化信号之复数个等化模式之优劣;以及从选择等化模式,以回应判断步骤。由于第一取样脉冲以及第二取样脉冲并不需要精准的落在等化信号特定之时间点上,因此可避免在判断时产生判断错误之现象。
申请公布号 TW200541049 申请公布日期 2005.12.16
申请号 TW094113190 申请日期 2005.04.26
申请人 晨星半导体股份有限公司 发明人 黄克强;徐国峰;李俊毅;刘先凤
分类号 H01L27/01 主分类号 H01L27/01
代理机构 代理人 何文渊
主权项
地址 新竹县竹北市台元街26号4楼之1