发明名称 可调节输入气体温度的制程设备
摘要 本发明揭露了一种可调节输入气体温度的半导体制程设备。此制程设备包含一反应室与一气体温度控制装置,反应室系输入气体并以该气体之电浆状态进行制程反应,而气体温度控制装置于该气体输入至该反应室前调整该气体之温度使该气体之温度与反应室内之温度大致接近。
申请公布号 TW200540919 申请公布日期 2005.12.16
申请号 TW093116705 申请日期 2004.06.10
申请人 友达光电股份有限公司 发明人 李宗澧
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 陈达仁;谢德铭
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路1号