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发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF TESTING THE SAME
摘要
申请公布号 KR100502133(B1) 申请公布日期 2005.07.20
申请号 KR20020042877 申请日期 2002.07.22
申请人 发明人
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/04;G11C29/12;G11C29/44;H01L21/66;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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